به وب سایت شرکت فرمند دانش ابزار خوش آمدید

میکروسکوپ های سری BM

ویژگی های محصول

معرفی میکروسکوپ های سری BM

با ترکیب بزرگ‌نمایی بالای میکروسکوپ متالوگرافی و قابلیت اندازه‌گیری سه‌محوره (3-Axis Measurement)، میکروسکوپ اندازه‌گیری BM Measuring Microscope قابلیت انجام مشاهدات در زمینه روشن (Bright Field)، زمینه تاریک (Dark Field)، تصحیح تداخلی DIC و پولاریزان (Polarizing Observation) را دارد.

این دستگاه به‌طور گسترده در بازرسی‌های صنعتی از جمله نیمه‌رساناها (Semiconductor)، بردهای PCB، نمایشگرهای LCD، تلفن‌های همراه، سامانه‌های اپتیکی مخابراتی، الکترونیک پایه، قالب‌سازی و سخت‌افزار صنعتی و صنعت خودروسازی به‌کار می‌رود.

ویژگی ها :

سر بیننده زاویه‌دار (Tilting Viewing Head)

سر بیننده با زاویه قابل تنظیم از ۵ تا ۳۵ درجه طراحی شده است تا کاربران با وضعیت نشستن یا ایستادن متفاوت بتوانند به‌صورت راحت و ارگونومیک از دستگاه استفاده کنند. این ویژگی باعث کاهش خستگی ناشی از کار طولانی‌مدت و افزایش بهره‌وری اپراتور می‌شود.

میز نمونه با دامنه حرکتی وسیع (Stage with Big Movement Range)

میز میکروسکوپ دارای دامنه حرکتی بزرگ در محورهای X و Y است و در اندازه‌های مختلف برای انتخاب کاربران ارائه می‌شود:

  • ۲۰۰ × ۱۰۰ میلی‌متر

  • ۳۰۰ × ۲۰۰ میلی‌متر

  • ۲۰۰ × ۳۰۰ میلی‌متر

  • ۴۰۰ × ۳۰۰ میلی‌متر

بدین ترتیب، صرف‌نظر از اندازه‌ی نمونه، میکروسکوپ BM Measuring Microscope می‌تواند نیازهای گوناگون کاربران در اندازه‌گیری صنعتی و متالوگرافی دقیق را برآورده کند.

تنظیم درشت و دقیق حرکت X/Y با دو سطح سرعت (Coarse and Fine Adjustment for X/Y Movement)

در سیستم BM Measuring Microscope، حرکت میز در محورهای X و Y دارای تنظیم درشت و ریز (Coarse & Fine Adjustment) است و می‌توان بین دو سرعت حرکتی متفاوت انتخاب کرد.

با وجود کاهنده‌ی حرکتی میز (Stage Reducer)، میزان حرکت در هر چرخش قابل کنترل است و می‌تواند بر روی ۲ میلی‌متر یا ۴ میلی‌متر تنظیم شود، که موجب افزایش دقت و سهولت در کنترل موقعیت نمونه می‌گردد.

طراحی یکپارچه و کاربرمحور (Highly Integrated Design)

کاربران می‌توانند بسته به نیاز خود، میز کار یکپارچه (Integrated Work Desk) را برای سیستم انتخاب کنند. این میز علاوه بر محل اختصاصی برای قرارگیری کیس رایانه (Computer Host)، دارای کشوی تاشوی صفحه‌کلید نیز هست.

طراحی کلی دستگاه تمیز، منظم و ارگونومیک است و تمام بخش‌های کنترلی در دسترس آسان کاربر قرار دارند. این ویژگی‌ها باعث می‌شود اپراتور بتواند تمام عملیات را به‌صورت راحت و بدون نیاز به ایستادن انجام دهد.

عدسی‌های شیئی متالوگرافی با فاصله کاری بلند (Long Working Distance Metallurgical Objectives)

این عدسی‌های حرفه‌ای با لنزهایی با عبوردهی بالا (High Transmittance) و وضوح نوری زیاد (High Sharpness) طراحی شده‌اند تا رنگ واقعی نمونه‌ها را به‌طور دقیق بازتولید کنند.

همچنین از مشاهده در زمینه تاریک (Dark Field)، پولاریزان (Polarizing) و تصحیح تداخلی DIC پشتیبانی می‌کنند و برای مطالعات دقیق متالوگرافی و بازرسی صنعتی بسیار مناسب‌اند.

سیستم فوکوس مستقل با تصویر شکافته (Independent Focus Assist of Split Image)

کنترل‌کننده‌ی نور در سیستم تصویر شکافته (Split Image) به‌صورت مستقل عمل می‌کند و شدت نور آن قابل تنظیم بر اساس نوع نمونه است.

این سیستم دارای دو الگوی مختلف تصویر شکافته است که کاربر می‌تواند به‌صورت آزادانه بین آن‌ها جابه‌جا شود. این قابلیت باعث می‌شود فوکوس دقیق‌تر و کنترل بهتری روی وضوح تصویر در کاربردهای صنعتی و اندازه‌گیری حاصل شود.

اندازه‌گیری با دقت بالا و تضمین صحت داده‌ها (Precision Measurement Ensures Data Accuracy)

هدف از اندازه‌گیری در این سامانه، بازتولید دقیق داده‌های واقعی نمونه‌ها است. یک ابزار اندازه‌گیری دقیق، نمایانگر ارزش برند و کیفیت سیستم اپتیکی است. با پیشرفت فناوری ساخت در جهت ریزسازی (Miniaturization) و افزایش دقت (Precision)، نیاز به اندازه‌گیری فوق‌دقیق اهمیت بیشتری پیدا کرده است.

مقیاس نوری با دقت بالا (High Precision Grating Scale)
در سری BM Measuring Microscope از سیستم اندازه‌گیری سه‌محوره (3-Axis Measuring System) با دقت ۰٫۱ میکرومتر (0.1 µm) استفاده می‌شود. محورهای X و Y به‌صورت دستی و محور Z با فوکوس الکتریکی کنترل می‌شوند. به‌کارگیری خط‌کش نوری دقیق (Grating Scale) باعث می‌شود فرآیند اندازه‌گیری آسان، سریع و بدون خستگی اپراتور انجام گیرد.

کنترلر فوکوس برقی (Electric Focusing Controller)

در سیستم اندازه‌گیری MS Measuring System، کنترل فوکوس در محورهای X، Y و Z و همچنین بازتنظیم خط‌کش نوری (Grating Scale Reset) توسط کنترلر جداگانه انجام می‌شود.

این طراحی از انحراف ناشی از تنظیم دستی جلوگیری کرده و امکان فوکوس دقیق و اندازه‌گیری با دقت بالا را فراهم می‌سازد.

شمارنده با نمایش بلادرنگ (Counter with Real-Time Display)

این شمارنده دارای نمایشگر بلادرنگ (Real-Time Display) است و در صورت نیاز می‌توان آن را جدا (Disassemble) کرد. دقت اندازه‌گیری آن ۰٫۱ میکرومتر (0.1 µm) است و شامل دکمه‌هایی برای بازتنظیم (Reset)، جبران خطی (Linear Compensation) و تغییر واحد شمارش (Count Unit Switch) می‌باشد.

این ویژگی‌ها امکان کنترل دقیق و سریع داده‌های اندازه‌گیری را برای کاربر فراهم می‌کند.

روشن‌ساز بازتابی چندمنظوره (Multi-Functional Reflected Illuminator)

روشن‌ساز بازتابی این سیستم با منبع نور LED پنج واتی (5W LED) طراحی شده است که کارایی بالا و طول عمر زیاد دارد. امکان انتخاب دمای رنگ‌های مختلف (Color Temperature Options) برای پوشش نیازهای گوناگون نوری وجود دارد.

همچنین، این روشن‌ساز قابلیت اتصال کیت پولاریزان (Polarizing Kit) و فیلترهای نوری مختلف را دارد که برای مشاهدات تخصصی و افزایش کیفیت تصویر به‌کار می‌روند.

نرم‌افزار اندازه‌گیری اختصاصی (Self-Designed Measuring Software)

نرم‌افزار قدرتمند این سیستم امکان تعریف تنظیمات دلخواه کاربر (Customer Preference Setup) را فراهم می‌کند و قابلیت اندازه‌گیری با دقت بالا (High-Precision Measurement) را برای اشکال پیچیده و غیرمنظم نمونه‌ها دارد.

این نرم‌افزار به‌گونه‌ای طراحی شده است که پشتیبان عملیات دقیق صنعتی و آزمایشگاهی در کاربردهای متالوگرافی و بازرسی پیشرفته باشد.

گزارش آزمایش تنها با یک دکمه (One-Button Test Report)

سیستم دارای قابلیت تولید گزارش آزمایش با یک دکمه است که موجب افزایش سرعت و دقت عملکرد می‌شود. این قابلیت از خطاهای انسانی در ثبت داده‌ها جلوگیری کرده و امکان خروجی مستقیم گزارش‌ها (Report Output) را با کارایی و اطمینان بالا فراهم می‌سازد.

شخصی‌سازی (Personalization)

کاربر می‌تواند موقعیت‌های اندازه‌گیری را به‌صورت دلخواه انتخاب کرده و در صورت نیاز، داده‌های خروجی را حذف یا ویرایش کند.

این قابلیت انعطاف‌پذیری بالا در کنترل داده‌ها را فراهم کرده و به کاربران اجازه می‌دهد فرآیند اندازه‌گیری را مطابق نیاز خود تنظیم کنند.

کاربرد ها

اندازه‌گیری دقت هم‌ترازی برجستگی‌ها (Bumping Registration Accuracy Measuring) در بسته‌بندی پیشرفته‌ی تراشه‌های IC

اندازه‌گیری دقت هم‌ترازی برجستگی‌ها (Bumping Registration Accuracy Measuring) در بسته‌بندی پیشرفته‌ی تراشه‌های ICC

اندازه‌گیری پایه‌های لحیم‌کاری (Welding Leg Measuring) در بردهای PCB

اندازه‌گیری TFT در نمایشگرهای LCD (TFT Measuring in LCD)

پیمایش به بالا