به وب سایت شرکت فرمند دانش ابزار خوش آمدید

میکروسکوپ BS-4030TRF/RF

ویژگی های محصول

معرفی میکروسکوپ BS-4030TRF/RF

میکروسکوپ BS-4030TRF/RF به‌طور گسترده در بازرسی‌های صنعتی و آنالیزهای متالوگرافی استفاده می‌شود.
این مدل با بهره‌گیری از عدسی‌های متالوگرافی با فاصله کاری بلند (LWD) و طراحی اپتیکی جدید، تصاویری شفاف و با وضوح بالا ارائه می‌دهد.
سری BS-4030TRF/RF دارای مجموعه کامل لوازم جانبی است تا بتواند نیازهای متنوع در ترکیب و کاربردهای مختلف را برآورده کند.

ویژگی ها :

۱. سر سه‌چشمی بینهایت با زاویه قابل تنظیم:
دارای سر سه‌چشمی Erect Gemel با مسیر نوری هم‌جهت برای عدسی و تصویر، که باعث هماهنگی کامل حرکت و مشاهده آسان‌تر می‌شود.

۲. عدسی‌های متالوگرافی با فاصله کاری بلند:
طراحی جدید عدسی‌های متالوگرافی حرفه‌ای با فاصله کاری بلند (LWD) با استفاده از اپتیک نیمه‌اپوکروماتیک (Semi-APO) و پوشش چندلایه ضدبازتاب (Broadband Multilayer Coating).
نتیجه آن، تصویری شفاف، طبیعی، با رنگ‌های واقعی و روشنایی بالا است که دامنه کاربرد میکروسکوپ را به‌طور چشمگیر گسترش می‌دهد.

۳. صفحه حرکتی بزرگ با محدوده حرکت وسیع:
مناسب برای بازرسی ویفر (4 و 6 اینچی) و نمونه‌های کوچک‌تر.
صفحه‌ی ۴ اینچی دو‌لایه با محدوده حرکت ۱۰۵×۱۰۵ میلی‌متر و صفحه‌ی ۶ اینچی سه‌لایه با محدوده حرکت بازتابی ۱۵۸×۱۵۸ میلی‌متر و عبوری ۱۰۰×۱۰۰ میلی‌متر، مجهز به دسته کلاچ برای جابه‌جایی سریع.
قابلیت تعویض صفحات از طریق آداپتور مخصوص فراهم است.

۴. ساختار مقاوم و پایدار بدنه:
بدنه‌ای تمام‌فلزی با مرکز ثقل پایین برای پایداری بیشتر و کاهش لرزش در حین کار.
مکانیزم فوکوس هم‌محور درشت و ریز با موقعیت پایین برای راحتی کاربر و منبع تغذیه داخلی با ولتاژ گسترده ۱۰۰–۲۴۰ ولت.

۵. برجک عدسی با کارایی بالا:
دارای طراحی دقیق با بلبرینگ‌های مقاوم که حرکت نرم و پایدار را فراهم می‌کند.
این ساختار موجب قرارگیری دقیق عدسی‌ها، هم‌مرکزی کامل (Good Concentricity) و کاربری راحت و مطمئن در تغییر بزرگنمایی می‌شود.

۶. گزینه‌های مختلف روشنایی (Optional Illumination Systems):

  • میدان روشن بازتابی (Bright Field Reflected Illuminator):
    مجهز به لامپ LED سفید ۵ وات با نور مایل (Oblique Illumination) برای مشاهده‌ی جزئیات سطحی و بافت‌های ریز.

  • سیستم روشنایی کهلر بازتابی (Koehler Reflected Illumination):
    شامل دیافراگم میدان و دیافراگم دهانه (Field & Aperture Diaphragm) با مرکز قابل تنظیم و نور مایل برای کنترل دقیق شدت و زاویه‌ی نور.

  • روشنایی عبوری (Transmission Illumination):
    دارای لامپ LED سفید ۵ وات و کندانسور با N.A. = 0.5 برای مشاهده‌ی نمونه‌های نازک.
    هر دو سیستم روشنایی بازتابی و عبوری می‌توانند به‌صورت مستقل یا هم‌زمان مورد استفاده قرار گیرند.

کاربرد ها

۱. مشاهده در میدان روشن (روشنایی بازتابی):
استفاده از روشنایی کهلر بازتابی (Koehler Reflected Illumination) همراه با عدسی‌های متالوگرافی Plan Achromatic با فاصله کاری بلند (LWD).
این ترکیب، تصویری شفاف، تخت و با وضوح یکنواخت از بزرگنمایی‌های پایین تا بالا فراهم می‌کند.

IC (5X / Bright Field)

Sapphire (5X / Bright Field)

۲. مشاهده در میدان روشن (روشنایی عبوری)(نه در RF ):
دارای منبع نور LED پرقدرت ۵ وات و کندانسور با N.A. = ۰٫۵ برای مشاهده‌ی نمایشگرهای LCD و لبه‌ی قطعات در حالت نور عبوری.
سیستم‌های نور عبوری و بازتابی به‌صورت مجزا یا هم‌زمان قابل کنترل و استفاده هستند.

LCD (10X / Transmitted Illumination)

۳. روشنایی مایل (Oblique Illumination):
در این روش، نور با زاویه‌ای مایل به سطح نمونه تابیده می‌شود تا ناهمواری‌ها و تفاوت جنس مواد سطحی به‌صورت تصاویر سه‌بعدی و برجسته دیده شوند.
این نوع نورپردازی باعث افزایش کنتراست و بهبود وضوح بصری در مشاهدات سطحی می‌شود.

FPC (10X / Bright Field)

FPC (10X / Oblique Illumination)

۴. مشاهده پلاریزه ساده (Simple Polarizing Observation):
در این روش با قرار دادن پلاریزر و آنالایزر در موقعیت مناسب در مسیر نور، می‌توان ساختارهای دارای خاصیت نوری ناهمسان‌گرد را مشاهده کرد.
آنالایزر می‌تواند به‌صورت ثابت یا قابل چرخش ۳۶۰ درجه باشد تا امکان تنظیم جهت و شدت نور پلاریزه فراهم شود.

PCB Cross Section (20X / Polarizing)

۵. مشاهده با تداخل‌سنجی افتراقی (DIC Observation):
در این روش که بر پایه‌ی پلاریزاسیون متعامد (Orthogonal Polarization) است، با قرار دادن منشور DIC در مسیر نوری، اختلاف‌های جزئی ارتفاع سطح نمونه به‌صورت برجستگی‌های واضح و سه‌بعدی نمایش داده می‌شود.
فناوری DIC باعث افزایش کنتراست تصویر و آشکارسازی جزئیات بسیار ریز می‌شود.
با استفاده از عدسی‌های دارای قابلیت DIC، رنگ‌های تداخلی در سراسر میدان دید یکنواخت باقی می‌مانند و نتایج تداخل‌سنجی حتی در بزرگنمایی‌های بالا نیز بسیار دقیق و واضح است.

Conducting Particles (20X / DIC)

LED Epitaxial Testing (20X / DIC)

Wafer (50X / DIC)

پیمایش به بالا